Wainwright I. Le nouveau microscope électronique à balayage à pression variable équipé de spectromètres X de l’ICC // Bulletin de l’ICC. – 2002. – № 29 (фр.).

Электронная микроскопия с разверсткой и микроанализ в рентгеновских лучах являются необходимыми методами анализа в области реставрации, предоставляет ценную информацию о составе, морфологии и структуре разнообразных материалов и образцов произведений искусства и играет важную роль в многочисленных проектах Канадского института консервации. С 1973 г. Институт располагает электронным микроскопом с разверсткой (МЕВ), а в 2002 г. устаревший образец 1985 г. был заменен новейшим МЕВ Hitachi S-3500N c переменным давлением. Новый микроскоп оборудован энергодисперсионным и длинноволновым дисперсионным рентгеновскими спектрометрами, детектором ретродиффузионных электронов Робинсона, детектором вторичных электронов, механизированной платиной с 5-ю осями ориентации и одной охлаждающей платиной. Длинноволновый дисперсионный рентгеновский спектрометр является более чувствительным детектором химических элементов и обладает лучшим спектральным разрешением рентгеновских лучей, чем энергодисперсионный рентгеновский спектрометр. Сочетание двух детекторов обеспечивает чувствительность, точность и быстроту анализа химических элементов периодической таблицы с атомным весом равным 5 или выше (бор). МЕВ с переменным давлением позволяет также изучать образцы без наложения проводящего слоя, что является необходимым этапом подготовки образцов в случае с обычным МЕВ. Следовательно, можно изучать еще более широкую гамму образцов, включая целые предметы. Охлаждающая платина позволяет также изучать жидкие или вязкие образцы.